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立式光學(xué)計(jì)
| 型 號(hào)： | |
| 廠商性質(zhì)： | 生產(chǎn)廠家 |
| 更新時(shí)間： | 2018-01-21 |
立式光學(xué)計(jì)本儀器是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等精度量塊，一級(jí)精度柱型規(guī)及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，對(duì)被測件作微小位移測量。亦可用來控制精密零件的加工。
立式光學(xué)計(jì)產(chǎn)品概述：
立式光學(xué)計(jì)用途
本儀器是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等精度量塊，一級(jí)精度柱型規(guī)及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，對(duì)被測件作微小位移測量。亦可用來控制精密零件的加工。
立式光學(xué)計(jì)技術(shù)參數(shù)
被測件zui大長度 180 mm
直接測量范圍 ≥±0.1 mm
分劃板分度值 0.001 mm
總放大倍數(shù) 1000×
測量力 (2±0.2) N
zui大不準(zhǔn)確度 ±0.00025 mm
儀器體積 300×160×410 mm
儀器重量 30 kg
標(biāo)準(zhǔn)配件 可調(diào)帶筋園臺(tái)、可調(diào)園平臺(tái)、帶筋固定方臺(tái)
平面測帽、平面測帽、小球面測帽、刃形測帽